Перейти до вмісту
  • Приймальня декана +380(44) 204 8627
  • fel@kpi.ua
Quick Links
  • Інформаційний пакет
  • Інформація про факультет
  • Історія факультета
  • Абітурієнту
  • Акустична камера
  • Аудиторія 412
Факультет електроніки логотип

Факультет електроніки

КПІ ім. Ігоря Сікорського

MENUMENU
  • Про факультет
        • Історія факультета
        • Факультет сьогодні
        • Керівництво факультету
        • Положення про факультет
        • Стратегічний план розвитку ФЕЛ на 2020-2025 роки
        • Досягнення та нагороди
        • Міжнародне визнання
        • Науково-дослідний інститут прикладної електроніки
        • Громадське обговорення
        • Контактна інформація

        • Адреса факультету: 
          03056, Київ - 56,
          вул. Політехнічна, 16, корпус №12

          Телефон: +380(44) 204 86 27
          е-mаіl: fel@kpi.ua

  • Кафедри
    • Кафедра мікроелектроніки
      • Про кафедру
      • Абітурієнтам
    • Кафедра електронних пристроїв та систем
      • Про кафедру
      • Абітурієнтам
    • Кафедра електронної інженерії
      • Про кафедру
      • Абітуріентам
    • Кафедра акустичних та мультимедійних електронних систем
      • Про кафедру
      • Абітурієнтам
    • Кафедра конструювання електронно-обчислювальної апаратури
      • Про кафедру
      • Абітурієнтам
      • Освітні програми та навчальні плани
      • Силабуси PhD
      • Стейкхолдери
  • ВСТУП
        • Вступ
          • Вступ на 1 курс (бакалавр)
          • Вступ на 1 курс (на базі молодшого спеціаліста)
          • Вступ на 1 курс (магістр)
          • Програми фахового іспиту для вступу в магістратуру
          • Вступ в аспірантуру
        • Сервіси
          • Приймальна комісія
          • Спеціальності та освітні програми
          • Розрахунок конкурсного бала
          • FEEDBACK ДЛЯ АБІТУРІЄНТІВ
        • Офіційні документи
          • Правила прийому та інші документи
          • Перелік необхідних документів
          • Подання оригіналів документів
          • Програми вступних іспитів третього (освітньо-наукового) рівня вищої освіти для здобуття наукового ступеня доктор філософії
        • Важлива інформація
          • Контакти відбіркової комісії факультету
          • Вартість платного навчання
          • Телефони гарячої лінії
  • Навчальний процес
        • Загальна інформація
          • Стандарти вищої освіти України
          • Дипломне проектування
          • Практика та працевлаштування
          • Додаткові програми кандидатського іспиту
          • Положення про вибір навчальних дисциплін
        • Каталог вибіркових навчальних дисциплін
        • Деканат
          • Куратори
          • Студкуратори
          • Відповідальні за GSuite
          • Відповідальні за Електронний кампус

        • Розклад

          Розклад занять, екзаменів та розклад прийому викладачів

        • Електронний кампус

          Електронний кампус. Авторизація в системі

        • Документи з освітнього процесу

  • Студентське життя
    • Телекрам канал "Студмістечко КПІ"
    • Stud Місто
  • Наукова діяльність
        • НАУКОВІ КОНФЕРЕНЦІЇ
          • IEEE International Conference on ELECTRONICS AND NANOTECHNOLOGY
          • Конференція молодих вчених "Електроніка"
          • Проблеми сучасної електротехніки
          • Перспективні напрямки сучасної електроніки
          • IEEE International Conference on Intelligent Energy and Power Systems (IEPS)
          • Smart-технологіі в енергетиці та електроніці
        • МІЖНАРОДНИЙ ОФІС
          • Академічна мобільність/Еразмус+
          • Подвійний диплом
          • Контакти

  • Нам допомагають
    • Благодійні внески
    • Виконані проекти
      • Аудиторія 412
      • КЛУБ 13
      • Акустична камера
  • Українська
  • English
Факультет електроніки > News > Результати складання комплексного фахового випробування

Результати складання комплексного фахового випробування

18 Вересня, 202218 Вересня, 2022 admin
Спеціальність 171 ЕлектронікаЗавантажити
Спеціальність 153 Мікро- та наносистемнаЗавантажити
Спеціальність 172 Телекомунікації та радіотехнікаЗавантажити

Навігація записів

Результати складання комплексного фахового випробування
Результати складання комплексного фахового випробування
© КПІ ім. І. Сікорського, ФЕЛ | Всі права захищені