Перейти до вмісту
  • Приймальня декана +380(44) 204 8627
  • fel@kpi.ua
Quick Links
  • Інформаційний пакет
  • Інформація про факультет
  • Історія факультета
  • Абітурієнту
  • Акустична камера
  • Аудиторія 412
Факультет електроніки логотип

Факультет електроніки

КПІ ім. Ігоря Сікорського

MENUMENU
  • Про факультет
        • Історія факультета
        • Факультет сьогодні
        • Керівництво факультету
        • Положення про факультет
        • Стратегічний план розвитку ФЕЛ на 2020-2025 роки
        • Досягнення та нагороди
        • Міжнародне визнання
        • Науково-дослідний інститут прикладної електроніки
        • Громадське обговорення
        • Контактна інформація

        • Адреса факультету: 
          03056, Київ - 56,
          вул. Політехнічна, 16, корпус №12

          Телефон: +380(44) 204 86 27
          е-mаіl: fel@kpi.ua

  • Кафедри
    • Кафедра мікроелектроніки
      • Про кафедру
      • Абітурієнтам
    • Кафедра електронних пристроїв та систем
      • Про кафедру
      • Абітурієнтам
    • Кафедра електронної інженерії
      • Про кафедру
      • Абітуріентам
    • Кафедра акустичних та мультимедійних електронних систем
      • Про кафедру
      • Абітурієнтам
    • Кафедра конструювання електронно-обчислювальної апаратури
      • Про кафедру
      • Абітурієнтам
      • Освітні програми та навчальні плани
      • Силабуси PhD
      • Стейкхолдери
  • ВСТУП
        • Вступ
          • Вступ на 1 курс (бакалавр)
          • Вступ на 1 курс (на базі молодшого спеціаліста)
          • Вступ на 1 курс (магістр)
          • Програми фахового іспиту для вступу в магістратуру
          • Вступ в аспірантуру
        • Сервіси
          • Приймальна комісія
          • Спеціальності та освітні програми
          • Розрахунок конкурсного бала
          • FEEDBACK ДЛЯ АБІТУРІЄНТІВ
        • Офіційні документи
          • Правила прийому та інші документи
          • Перелік необхідних документів
          • Подання оригіналів документів
          • Програми вступних іспитів третього (освітньо-наукового) рівня вищої освіти для здобуття наукового ступеня доктор філософії
        • Важлива інформація
          • Контакти відбіркової комісії факультету
          • Вартість платного навчання
          • Телефони гарячої лінії
  • Навчальний процес
        • Загальна інформація
          • Стандарти вищої освіти України
          • Дипломне проектування
          • Практика та працевлаштування
          • Додаткові програми кандидатського іспиту
          • Положення про вибір навчальних дисциплін
        • Каталог вибіркових навчальних дисциплін
        • Деканат
          • Куратори
          • Студкуратори
          • Відповідальні за GSuite
          • Відповідальні за Електронний кампус

        • Розклад

          Розклад занять, екзаменів та розклад прийому викладачів

        • Електронний кампус

          Електронний кампус. Авторизація в системі

        • Документи з освітнього процесу

  • Студентське життя
    • Телекрам канал "Студмістечко КПІ"
    • Stud Місто
  • Наукова діяльність
        • НАУКОВІ КОНФЕРЕНЦІЇ
          • IEEE International Conference on ELECTRONICS AND NANOTECHNOLOGY
          • Конференція молодих вчених "Електроніка"
          • Проблеми сучасної електротехніки
          • Перспективні напрямки сучасної електроніки
          • IEEE International Conference on Intelligent Energy and Power Systems (IEPS)
          • Smart-технологіі в енергетиці та електроніці
        • МІЖНАРОДНИЙ ОФІС
          • Академічна мобільність/Еразмус+
          • Подвійний диплом
          • Контакти

  • Нам допомагають
    • Благодійні внески
    • Виконані проекти
      • Аудиторія 412
      • КЛУБ 13
      • Акустична камера
  • Українська
  • English
Факультет електроніки > News > Результати складання комплексного фахового випробування

Результати складання комплексного фахового випробування

14 Вересня, 202216 Вересня, 2022 admin
Спеціальність 171 ЕлектронікаЗавантажити
Спеціальність 172 Телекомунікації та радіотехніка Завантажити

Навігація записів

Результати складання комплексного фахового випробування
Результати складання комплексного фахового випробування
© КПІ ім. І. Сікорського, ФЕЛ | Всі права захищені